霧度測(cè)試儀光路異常原因及排查修復(fù)方案
霧度測(cè)試儀是一種常用于材料霧度測(cè)量的專業(yè)儀器,廣泛應(yīng)用于塑料、玻璃等行業(yè)的質(zhì)量控制和研發(fā)工作中。然而,使用過(guò)程中可能會(huì)遇到光路異常的問(wèn)題,導(dǎo)致無(wú)法正常進(jìn)行測(cè)試。本文將從光路異常的原因、排查方法和修復(fù)步驟三個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)闡述,以幫助用戶解決這一問(wèn)題。 一、光路異常原因 光源問(wèn)題:光源衰減和燈絲.......
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